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德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest 2500/4500涂層測厚儀為MiniTest1100-4100系列的升級產品,為涂層測量領域的廣泛任務提供了多種探頭、不同的校準方法和評估選項。 MiniTest 2500/4500涂層測厚儀具有IP65防護等級,人機工程學設計,高對比度顯示屏和背光鍵盤,以及其他有用的功能。可存儲多達200萬個測量值,通過USB接口向計算機傳輸數據。
型號 |
MiniTest2500 |
MiniTest4500 |
可存儲的讀數總數 |
2000000 |
2000000 |
最大批組數量 |
1 |
超過9500 |
具有獨立校準值的 應用程序存儲數量 |
- |
99 |
具有相同校準值的批組 每個應用程序存儲的批組數量 |
- |
99 |
統(tǒng)計功能(每批組) |
kvar, n, max., min. |
kvar, n, max., min., CP, CPK |
校準 |
出廠校準, 零點和多達四個校準點 |
出廠校準, 零點和多達四個校準點 |
- |
如果無基材使用,則通過涂層進行校準(CTC) |
|
補償功能 |
- |
用于從讀數中加/減一個恒定值 |
極限設置(用戶自定義) |
- |
超出限制時的光信號和聲音信號報警 |
測量單位 |
μm, mm, cm, mils, inch |
μm, mm, cm, mils, inch |
接口 |
USB |
USB和藍牙 4.0 |
可升級接口 |
- |
報警輸出,腳踏開關觸發(fā),RS232接口 |
電源/每次更換電池的工作時間 |
3 x AA (LR06) 電池和USB/大約為150小時(不使用背光) |
|
規(guī)范和標準 |
DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882;ISO 19840;
ASTM B244,B499, D7091, E376 |
|
顯示 |
53x46 mm,帶背光 |
|
操作溫度/存儲溫度 |
10 ~60°C / –20 ~ 70°C |
|
尺寸 |
53mm x 89mm x 36mm |
|
重量 |
320g(儀器包括電池),橡膠保護套90g |
|
防護等級 |
IP 65 |
|
標準配置 |
主機: MiniTest 2500 或 4500 、塑料便攜箱、橡膠保護套、操作手冊 德文, 英文, 法文、3xAA 電池 USB 連接線、已選的涂層測厚儀探頭、校準箔、零標準板 |
|
可選配置 |
制造商證書(DIN 55350 M) 用于涂層測厚儀,探頭和校準、 用于將讀數傳輸到內存的外部觸發(fā)器 精密支架用于連續(xù)測量和測量小工件、快速充電器 用于鎳氫充電電池 |
探頭 |
量程 |
低端分辨率 |
誤差 |
最小曲率半徑(凸/凹) |
最小測量區(qū)域直徑 |
最小基體厚度 |
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%+0.7μm) |
0.75/5mm |
3mm |
0.1mm |
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%+10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%+20μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%+50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%+0.5μm) |
1/5mm |
2mm |
50μm |
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%+25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%+50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%+0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F:0.5mm/N:50μm |
FN1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
平面/6mm |
5mm |
F:0.5mm/N:50μm |
F2HT |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
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