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        涂層測(cè)厚儀

        德陽市OU3500涂鍍層測(cè)厚儀

        OU3500涂層測(cè)厚儀是歐譜公司新研發(fā)的新產(chǎn)品,是德國EPK/易高等同類產(chǎn)品的替代產(chǎn)品,與之前涂層測(cè)厚儀相比有以下主要優(yōu)點(diǎn):測(cè)量速度快:測(cè)量速度比其它品牌系列快6倍;精度高:本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。

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        產(chǎn)品詳情

        一、概述

        滄州歐譜OU3500涂層測(cè)厚儀歐譜公司新研發(fā)的新產(chǎn)品,是一種小型便攜式儀器,磁性測(cè)厚儀也稱涂層測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、涂鍍層測(cè)厚儀。其性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、重現(xiàn)性好、經(jīng)濟(jì)耐用。產(chǎn)品符合以下標(biāo)準(zhǔn):
        GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法;
        GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法;
        JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x;
        JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》;
        JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》;

        二、主要特點(diǎn):

        零位穩(wěn)定:所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零;
        儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后,可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移,確保準(zhǔn)確測(cè)量;
        精度高 :本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,其精度與穩(wěn)定性高于國內(nèi)同類產(chǎn)品;
        線性編輯:多數(shù)涂層測(cè)厚儀除了基礎(chǔ)校零外,儀器本身沒有線性編輯,使得測(cè)量重復(fù)性誤差大,本儀器出廠加入線性編輯增加測(cè)量精度與重復(fù)穩(wěn)定性;
        溫度補(bǔ)償:涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù),以保證不同溫度下的測(cè)量精度;
        獨(dú)特的直流采樣技術(shù):使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無可比擬的優(yōu)越和提高;
        可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;
        具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式和單次測(cè)量方式;
        探頭線:特殊訂制可經(jīng)受幾百萬次的曲折。


        三、適用范圍

        OU3500鍍層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
        本儀器廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)理想的儀器。

        四、主要技術(shù)指標(biāo)

        型號(hào)
        OU3500-F
        OU3500-N
        OU3500-FN
        測(cè)定對(duì)象
        磁性金屬上非磁性涂鍍層
        非磁性金屬上絕緣層
        磁性金屬上非磁性涂鍍層
        非磁性金屬上絕緣層
        測(cè)量范圍
        F1、N1、F1/90型 0~1250um
        F10型 0~10000um
        測(cè)量誤差
        F1、N1、F1/90-(1-3%H+1);二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1%
        F10-(1-3%H+10) 二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1%
        校準(zhǔn)方法
        一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)
        顯示分辨率
        0.1μm(測(cè)量范圍小于100μm)、1μm(測(cè)量范圍大于100μm)
        存儲(chǔ)
        存儲(chǔ)500個(gè)數(shù)據(jù)
        工作方式
        直接方式和成組方式
        測(cè)量方式
        連續(xù)測(cè)量和單次測(cè)量
        關(guān)機(jī)方式
        手動(dòng)關(guān)機(jī)和自動(dòng)關(guān)機(jī)
        統(tǒng)計(jì)功能
        測(cè)量次數(shù)、最大值、最小值、平均值
        設(shè)置限界
        對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警
        刪除功能
        對(duì)粗大誤差及錯(cuò)誤設(shè)置可進(jìn)行刪除處理
        提示音
        音樂鈴聲
        其它功能
        電源欠壓指示、錯(cuò)誤提示
        溫度補(bǔ)償
        0~50℃
        使用環(huán)境溫度
        -10℃~60℃
        電源
        1.5V×2
        外型尺寸
        120×65×30mm
        重量
        300g
        標(biāo)準(zhǔn)配置
        主機(jī)、F型或N型探頭、校準(zhǔn)片、基體一塊、電池、說明書、保修卡、儀器箱


        五、探頭種類

        ou7-397.jpg
        ou7-399.jpg
        F1探頭
        工作原理: 磁感應(yīng)
        測(cè)量范圍: 0-1250um
        分辨力: 100um以下0.1um
          100um以上1um
        示值誤差: 1.一點(diǎn)校準(zhǔn):±(1-3%H+1)um
          2.兩點(diǎn)校準(zhǔn):±(1%H+1)um
        測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑:凸1.5mm
          2.基體最小面積的直徑:Ф7mm
          3.最小臨界厚度:0.5mm
        探頭尺寸: Ф12×47mm
        N1探頭
        工作原理: 電渦流
        測(cè)量范圍: 0-1250um
        分辨力: 100um以下0.1um
          100um以上1um
        示值誤差: 1.一點(diǎn)校準(zhǔn):±(1-3%H+1)um
          2.兩點(diǎn)校準(zhǔn):±(1%H+1)um
        測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑:凸3mm
          2.基體最小面積的直徑:Ф5mm
          3.最小臨界厚度:0.3mm
        探頭尺寸: Ф15×73mm
        ou7-400.jpg
        ou7-401.jpg
        F10探頭
        工作原理: 磁感應(yīng)
        測(cè)量范圍: 0-10000um
        分辨力: 1000um以下1um
          1000um以上10um
        示值誤差: 1.一點(diǎn)校準(zhǔn):±(3%H+10)um
          2.兩點(diǎn)校準(zhǔn):±(1%H+10)um
        測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑:凸10mm
          2.基體最小面積的直徑:Ф40mm
          3.最小臨界厚度:2mm
        探頭尺寸: Ф27×47mm
        F1/90探頭
        工作原理: 磁感應(yīng)
        測(cè)量范圍: 0-1250um
        分辨力: 1000um以下1um
          1000um以上10um
        示值誤差: 1.一點(diǎn)校準(zhǔn):±(1-3%H+1)um
          2.兩點(diǎn)校準(zhǔn):±(1%H+1)um
        測(cè)量條件: 1.最小曲率半徑:平直
          2.基體最小面積的直徑:Ф7mm
          3.最小臨界厚度:0.5mm
        探頭尺寸: Ф7.5×11×200mm
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