景德鎮(zhèn)市PosiTectorUTG超聲波測厚儀

一、產(chǎn)品概述

美國DeFelsko公司美國DeFelsko公司超聲波測厚儀PosiTectorUTG系列，測量金屬、塑料、玻璃等致密材料的厚度。
其中：
- PosiTectorUTGC為普通型
- PosiTectorUTGCA為一體化型
- PosiTectorUTGCX為鎧裝探頭線
- PosiTectorUTGLFC為低頻探頭
- PosiTectoUTGM具有穿透涂層測量的功能(多重回波)
- PosiTectorUTGP用于測量薄件，同時具有穿透涂層測量的功能(多重回波)
高級型具有A-掃描和B-掃描功能。
符合ASTM E797標準。

二、儀器特點

簡單	- 預置常見材料聲速，也可方便地調(diào)節(jié)聲速 - SmartCouple模式，可消除由于工件表面的耦合不良對測量的影響 - 增強型單手菜單操作，包括中文界面 - 燈光提示：便于在嘈雜的環(huán)境中確定已獲得測量結果 - 重置功能可迅速將測厚儀還原到出廠狀態(tài)
耐用	-耐磨探頭 -防酸、防油、防水、防溶劑、防塵 -防撞擊橡膠保護套
精確	- 每臺儀器都有校準證書，符合NIST或PTB標準 - 內(nèi)置溫度補償以確保測量精度 - 高分辨率模式可提高顯示分辨率 - 符合美國和國際標準，包括ISO和ASTM標準
通用	- 可以和DeFelsko公司的涂層測厚儀、超聲波涂層測厚儀、露點儀、粗糙度儀、邵氏硬度計、巴氏硬度計、鹽分儀共用主機 - 1點和兩點校準方式 - 公制英制單位互換 - 多語言菜單可選，包括中文 - 高對比度可逆彩色顯示屏，帶背光 - 倒轉(zhuǎn)顯示，方便讀數(shù) - 使用堿性電池，可選擇充電電池
高效	- 最小值掃描模式—提供每秒20次的測量頻率 - 連續(xù)顯示包括平均值、標準偏差、最大/最小值 - 上下限報警 - 截屏功能，可將屏幕顯示存成圖片格式 - 通過USB數(shù)據(jù)線方便的連接到計算機，并且給主機供電 - 可通過計算機下載和瀏覽主機的數(shù)據(jù) - 可通過計算機升級主機的程序

 

三、主機選擇

1型-標準型主機 (Standard)	- 具有上述所有優(yōu)點 - 可存儲250個數(shù)據(jù)
3型-高級型主機 (Advanced)	- 可存儲1000組共100000個數(shù)據(jù) - 帶可調(diào)節(jié)增益和截屏的A-掃描功能。視頻演示 - 顯示橫截輪廓的B-掃描功能。視頻演示 - 實時圖表、圖像提示和分組注釋 - 使用屏幕QWERTY鍵盤添加注釋和更改組別名稱 - WiFi與PosiSoft.net無線同步并下載軟件 - 藍牙4.0將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇osiTectorAPP或可選便攜式打印。BLE API可集成到第三方軟件中 - 主機存儲的其他探頭的數(shù)據(jù)，比如厚度、鹽分、粗糙度，硬度等，都在不同的組別里

涂層測厚儀PosiTectorUTG系列標準配置

	主機尺寸	137 x 61 x 31mm
	主機重量	140g(不含電池)
	基本型	主機、探頭、校零試塊、普通耦合劑、腕帶、3節(jié)7號電池、USB數(shù)據(jù)線、 尼龍便攜軟包(個別大探頭是儀器箱)、中英文說明書、出廠證書

四、技術參數(shù)

型號	UTGCA1/3	UTGC1/3	UTGCX1/3	UTGCLF1	UTGM1		UTGP1
探頭類型	5MHz 一體化 雙晶探頭	5MHz 雙晶探頭	5MHz帶鎧裝線 雙晶探頭	2.25MHz 雙晶探頭	5MHz 接觸型探頭		15Mhz 單晶延遲塊探頭
測量模式	單次回波				單次回波	多重回波	測量鋼	測量塑料
測量范圍	1.00~ 125.00mm				2.50~ 125.00 mm	2.50~ 60.00 mm	0.2~ 12.0mm	0.125~ 4.500mm
穿透涂層功能	-				√		√
分辨率	0.01mm				0.01mm		0.002mm
精度	±0.03mm				±0.03mm		±0.01mm

UTGCA探頭		- 一體化 - 5MHz雙晶探頭 - 自動V聲程校準
UTGC探頭		- 5MHz雙晶探頭 - 自動V聲程校準
UTGCX探頭		- 鎧裝探頭線 - 5MHz雙晶探頭 - 自動V聲程校準
UTGCLF探頭		- 2.25MHz雙晶探頭 - 用于測量衰減材料，如鑄鐵 - 專有算法將后壁反射與鑄造材料中的顆粒噪聲區(qū)別開來
UTGM頭		- 可穿透涂層測量。視頻演示 - 5MHz接觸式，耐磨氧化鋁探頭 - 多重回波技術提供三個或更多的回波以確保測量的精度和可靠性 - 單次回波和多重回波測量可輕松切換
UTGP探頭		- 15MHz單晶延遲塊探頭 - 用于高分辨率測量和薄材料(包括金屬和塑料)，自動多重回波模式確保薄件的理想精度 - 自動單次回波和多重回波模式切換，取決于材料和厚度